薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。

征

嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)的接觸面積和測(cè)量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制

測(cè)試過程中測(cè)量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素成的系統(tǒng)誤差

支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測(cè)量模式，方便用戶自由選擇

系統(tǒng)自動(dòng)樣，樣步距、測(cè)量點(diǎn)數(shù)和樣速度等相關(guān)參數(shù)均可由用戶自行設(shè)定

實(shí)時(shí)顯示測(cè)量結(jié)果的較大值、較小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶行判斷

配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測(cè)試的度和數(shù)據(jù)致性

系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用能，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果

系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看

標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外連接和數(shù)據(jù)傳輸

支持Lystem™實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告  

測(cè)量原理

使用兩個(gè)激光傳感器安裝在被測(cè)物（紙張）上下方，將傳感器固定在穩(wěn)定的支架上，確保兩個(gè)傳感器的激光能對(duì)在同點(diǎn)上。隨著被測(cè)物的移動(dòng)傳感器就開始對(duì)其表面行采樣，分別測(cè)量出目標(biāo)上下表面分別與上下成對(duì)的激光位移傳感器距離，測(cè)量值通過串口傳輸?shù)接?jì)算機(jī)，再通過我們?cè)谟?jì)算機(jī)上的測(cè)厚軟件行處理，得到目標(biāo)的厚度值。

非接觸式薄膜測(cè)厚儀的出現(xiàn)，大大提了紙張等片材厚度測(cè)量的度，尤其是在自動(dòng)化線上，得到廣泛應(yīng)用。