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簡(jiǎn)要描述：MHY-25917/A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
產(chǎn)品型號(hào)：MHY-25917廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家更新時(shí)間：2024-07-10訪(fǎng) 問(wèn) 量：593產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
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便攜式四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/電阻率檢測(cè)儀 型號(hào):MHY-25917
測(cè)量范圍寬、度、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的便攜式
體積僅為：125mm(寬)*145mm()*245mm(深)
MHY-25917/A型便攜式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法家標(biāo)準(zhǔn)并參考美 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而的，用于測(cè)量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
儀器采用了新電子行、裝配。具有能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、度、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等點(diǎn)。如有需要可加配測(cè)試臺(tái)使用。
本儀器廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能單晶（多晶）廠(chǎng)家為硅材料的分選測(cè)試，半導(dǎo)體材料廠(chǎng)、半導(dǎo)體器件廠(chǎng)、科研單位、等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。
術(shù) 標(biāo) ：
按測(cè)量范圍可選配MHY-25917型或MHY-25917A型，區(qū)別：測(cè)量范圍不樣。
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